Yüzey Ölçümünde Üstün Hassasiyet!

ASENTEK, yüzey ölçümü için yüksek hassasiyet ve doğruluk sağlayan optik profilometreler üretmektedir. Gelişmiş enterferometrik teknikler kullanan bu cihazlar, nanoteknoloji, malzeme bilimi ve üretim gibi uygulamalarda mikrometre ve nanometre seviyesinde doğruluk sunar, ayrıca ölçüm sırasında örnekleri hasar görmeden korur.

3D OPTİK PROFİLOMETRELER

Yüzey Ölçümünde Hassasiyet
Optik profilometrelerimiz, enterferometri prensipleriyle yüksek doğrulukta 3D yüzey profillemesi sağlar. Beyaz ışık mikroskopik enterferometri ve faz kayması enterferometri gibi tekniklerle yüzey topografyasını ve pürüzlülüğünü yüksek detayla ölçer. Küçük yüzeylerden büyük materyallere kadar geniş bir uygulama yelpazesinde doğruluk ve hız sunar.

Ürün Yelpazesi
Çeşitli ihtiyaçlara hitap eden optik profilometrelerimiz:
NanoSharp3D: En yüksek hassasiyet için nanometre düzeyinde doğruluk sunar. Yüzey pürüzlülüğü analizi, profil grafikleri gibi ileri düzey özelliklerle yüksek hassasiyetli araştırma ve üretim için idealdir.
MicroSharp3D: Mikrometre hassasiyet gerektiren uygulamalar için uygun fiyatlı bir çözümdür. Daha geniş görüş alanı, hızlı tarama ve verimli veri toplama sunar, yüksek hacimli ortamlar için uygundur.

Yüksek Hassasiyet & Doğruluk Temassız & Hasarsız Ölçüm Gelişmiş Yüzey Analizi Kullanıcı Dostu Yazılım Geniş Endüstriyel Kullanım Alanı
Nanometre ve mikrometre seviyesinde ölçüm doğruluğu
Numuneye dokunmadan hassas yüzey analizi
Yüzey pürüzlülüğü, adım yüksekliği, dalgalılık gibi parametreleri ölçme
Gerçek zamanlı 3D görselleştirme
Yarı iletken, optik, kaplama ve malzeme bilimi uygulamaları
Yüksek çözünürlüklü interferometri teknolojisi
Kırılgan ve değerli malzemeler için ideal çözüm
Beyaz ışık interferometri ve faz kaydırmalı interferometri desteği
Çoklu parametre analizi ve özelleştirilebilir ayarlar
Kalite kontrol ve araştırma laboratuvarları için optimize edilmiş tasarım
Karmaşık yüzeylerin detaylı 3D analizi
Ölçüm sırasında mekanik stres veya hasar riski yok
Karmaşık ve mikro yapıların detaylı haritalandırılması
Kolay veri aktarımı ve raporlama seçenekleri
Seri üretimde hızlı ve hassas ölçüm yetenekleri

Neden ASENTEK Yüksek Gerilim Güç Kaynakları?

Yüksek Hassasiyet ve Doğruluk

Nanometreden mikrometreye kadar yüksek doğrulukla yüzey ölçümü sağlar.

Zarar Vermeyen Ölçüm

Temas etmeyen, zarar vermeyen ölçümle örneklerin bütünlüğünü korur.

İleri Düzey Yüzey Analizi

ürüzlülük, basamaktaki yükseklik ve 3D profil analizi gibi detaylı yüzey analizleri sunar.

Kullanıcı Dostu Yazılım

Kolay kullanım, gerçek zamanlı görselleştirme ve özelleştirilebilir ayarlar sağlar.

Geniş Kullanım Alanı

Üretim, malzeme bilimi, yarı iletkenler, optik ve kaplama gibi alanlarda kullanılır.